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主營產(chǎn)品： 光學(xué)設(shè)備、電子計測儀器、科學(xué)儀器、機械加工設(shè)備、環(huán)境試驗設(shè)備、PC周邊用品、作業(yè)工具用品、物流保管用品、化學(xué)用品、FA自動化
產(chǎn)品中心
DNL
ETA
　

產(chǎn)品資料

日本AEMIC愛米克超高電阻測試儀AE-1644E
產(chǎn)品型號：AE-1644E 超高電阻測試儀
簡介：

適合5kΩ～1.5TΩ 貼片、MELF、軸向型超高電阻器的分選機、整修機

日本AEMIC愛米克超高電阻測試儀AE-1644E  的詳細(xì)介紹

日本AEMIC愛米克超高電阻測試儀AE-1644E

日本AEMIC愛米克超高電阻測試儀AE-1644E


  • 對噪聲采取低誤差的高速積分方式（可對每個量程進行積分時間設(shè)定）
  • 可通過數(shù)字設(shè)定基準(zhǔn)電阻值進行百分比測量（±50.00%）
  • 可使用微調(diào)模式
  • 比較器結(jié)果可以集電極開路輸出、LED顯示以及蜂鳴器鳴聲
  • 可進行接觸檢測
  • RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)配備（GP-IB/Centronics輸出選購）
測量范圍及基本精度（周圍溫度23℃±5℃）
量程 測量范圍 測量**度
測量電壓H 測量電壓L
100kΩ 5.00kΩ～150.00kΩ 15V ±0.03％±1digit[±0.1％ of rdg±1digit] 15V ±0.03％±1digit[±0.1％ of rdg±1digit]
1MΩ 50.0kΩ～1500.0kΩ
10MΩ 0.500MΩ～15.000MΩ
100MΩ 5.00MΩ～150.00MΩ 100V ±0.05％±1digit[±0.2％ of rdg±1digit] 15V ±0.3％±1digit[±1.2％ of rdg±1digit]
1GΩ 50.0MΩ～1500.0MΩ
10GΩ 0.500GΩ～15.000GΩ 100V ±0.2％±1digit[±0.5％ of rdg±1digit] 15V ±1.2％±2digit[±1.5％ of rdg±1digit]
100GΩ 5.00GΩ～150.00GΩ 200V ±0.5％±2digit[±0.8％ of rdg±2digit] 15V ±1.5％±2digit[±2.0％ of rdg±2digit]
1TΩ 50.00GΩ～1500.0GΩ 200V ±0.1％±4digit[±1.5％ of rdg±4digit] –

※ 上述測量**度的上一行為偏差值測量**度、下一行[ ]內(nèi)準(zhǔn)確度為**值測量**度

顯示范圍 偏差值模式：±50.00[%]
**值模式：500～15000
測量方式 2端子測量[可接觸檢測]
采樣時間 【空轉(zhuǎn)】約3.3～約4次/秒
【外部啟動】FAST：2.5msec.+DELAY+積分時間[1msec.～29msec.]
SLOW：2.5msec.+DELAY+積分時間[電源頻率數(shù)1 SCALE×
(1～9)]
【微調(diào)模式】約14.5msec.+DELAY+積分時間+[150msec.(只有判定HI時)]
比較器設(shè)定范圍 偏差值測量：上下限均為0～±50%
**值測量：上下限均為 500～15000
測量延遲時間 0msec.～99msec.（可各量程設(shè)定）
接觸檢測時間 【測量前檢測】測量時間+11msec.
【測量后檢測】測量時間+6msec.
比較器判定結(jié)果顯示 LO/GO/HI、LED顯示及蜂鳴器
控制訊號 測量開始訊號：”L”[0V或 短路]→”H”[DC12V或 Open ]方式啟動
保持訊號：”H”[DC12V或 Open ]:Free run、 ”L”[0V或 短路 ]:Hold
判定結(jié)果訊號[LO/GO/HI]：集電極開路輸出
接觸錯誤[CE]：集電極開路輸出”O(jiān)N”
測量結(jié)束訊號[EOC]：集電極開路輸出”O(jiān)N”[1msec.～99msec.可變換]
周圍使用環(huán)境 溫度：+5℃～+40℃、　濕度：85%以下
所需電源 AC85V～265V、50～60Hz、約20VA
外形尺寸 333(W)×99(H)×300(D)mm（不含底部橡膠等突起部分）
重量 約2.5kg
選購 ?GP-IB
?打印機傳輸線
?短路端子器（零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻器）