HIOKI日置阻抗分析儀IM3570，京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置阻抗分析儀IM3570，京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置阻抗分析儀IM3570，京都玉崎日本原裝進(jìn)口
1臺儀器實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
● 1臺儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ● LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 ● 基本精度±0.08%的高精度測量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 ● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時(shí)間間隔測量 ● 可以用于無線充電評價(jià)系統(tǒng)TS2400
主機(jī)不標(biāo)配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態(tài)進(jìn)行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進(jìn)行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實(shí)現(xiàn)。