HIOKI日置LCR測試儀IM3523,京都玉崎日本原裝進口 HIOKI日置LCR測試儀IM3523,京都玉崎日本原裝進口 HIOKI日置LCR測試儀IM3523,京都玉崎日本原裝進口
應用于生產線和自動化測試領域的理想選擇
● 基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產品10倍的速度不間斷測試。 ● 內置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測試時間
本產品不標配測量探頭和測試夾具。請結合應用單獨選擇和購買合適的測量探頭和測試夾具。所有探頭均帶有一個1.5D-2V的同軸電纜。RS-232C接口連接:交互連接可使用交叉電纜。您可使用RS-232C電纜9637,不需要硬件控制器。
在電容的測量條件中希望以120Hz測量C-D。希望以100kHz測量ESR。這時,使用1臺告訴連續(xù)測量不同條件。
為了使用1臺LCR測試儀測量多種產品,要求高效率的更改設置。 IM3523的面板保存功能更,*多保存60組測量條件,還能保存128個開路/短路補償和線長補償等的補償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外,可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取,因此能縮短構筑自動化檢查產線的時間。
檢查4端子測量時樣品間的接觸不佳。 測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻,如果在所設置的閾值以上時則顯示錯誤。